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検索結果 10 件

大塚電子株式会社顕微分光膜厚計　OPTM series

その他

顕微分光を用いた微小領域での絶対反射率測定により、高精度な膜厚・光学定数解析が可能な装置です。各種フィルムやウェーハ、光学材料などのコーティング膜の厚みや多層膜を非破壊・非接触で測定できます。測定 …
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大塚電子株式会社ゼータ電位･粒子径･分子量測定システム ELSZneo　　

その他

ELSZseriesの最上位機種で希薄溶液~濃厚溶液でのゼータ電位･粒子径測定に加え、分子量測定を可能にした装置です。新しい機能として粒度分布の分離能を向上させるため多角度測定を採用いたしました。 …
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大塚電子株式会社多検体ナノ粒子径測定システム　nanoSAQLA

その他

動的光散乱法(DLS法)による粒子径測定（粒子径0.6nm～10μm）装置です。品質管理のニーズを更に追求した機能を各種搭載。希薄～濃厚系まで広濃度範囲で多検体測定対応した新光学系、ラボで必須 …
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大塚電子株式会社マルチチャンネル分光器　MCPD-9800/6800

その他

紫外から近赤外領域対応の多機能マルチチャンネル分光検出器です。最短5msで分光スペクトル測定ができます。標準装置のオプティカルファイバーにより、サンプル種を特定することなく、さまざまな測定系に対応可能 …
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大塚電子株式会社分光干渉式ウェーハ厚み計　SF-3

その他

ウェーハ等の研削研磨プロセスを非接触でウェーハや樹脂の超高速リアルタイム・高精度に測定
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大塚電子株式会社ラインスキャン膜厚計【インラインタイプ】

その他

インラインでのフィルム生産現場においてフィルムの膜厚を全幅・全長測定できる装置です。独自の分光干渉法に新たに開発した高精度膜厚演算処理技術を組み合わせることで、最短0.01秒毎の測定間隔で500 …
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大塚電子株式会社ラインスキャン膜厚計【オフラインタイプ】

その他

フィルムなどの研究開発や抜き取り検査に、オフラインで簡単に面内膜厚ムラ検査が可能な装置です。全面を高速かつ高精度に測定可能です。
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大塚電子株式会社高分子相構造解析システム　PP-1000

その他

小角光散乱法を用いて、高分子やフィルムの構造をIn-situ、リアルタイムに解析できる装置です。X線や中性子線を用いた装置と比べて、より大きな構造(μmオーダー）の評価が可能です。偏光板を用いたH …
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大塚電子株式会社光波動場三次元顕微鏡　MINUK　

顕微鏡/マイクロスコープ

表面形状測定装置

画像検査装置(三次元・二次元)

その他

MINUKは、nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能で、1ショットで高さ方向の情報を取得でき、非破壊・非接触・非侵襲で測定が可能な装置です。さらにフォーカス不要で、任意の面を高速でスキャンして …
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大塚電子株式会社ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム　ELSZneoSE

その他

本製品は、粒子径およびゼータ電位測定専用装置です。 ELSZneoSEではELSZneoの新機能をオプション化しています。ご用途に合わせて必要な機能を必要なだけカスタマイズすることが可能です。
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