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大塚電子株式会社ラインスキャン膜厚計【インラインタイプ】

その他

インラインでのフィルム生産現場においてフィルムの膜厚を全幅・全長測定できる装置です。
独自の分光干渉法に新たに開発した高精度膜厚演算処理技術を組み合わせることで、最短0.01秒毎の測定間隔で500mm幅（1台使用時）のフィルムの膜厚測定が可能です。