電子機器の開発に不可欠なEMC対策における、事前測定・発生箇所の特定・対策効果の確認ができるシステムです。
カメラの画像から電磁界プローブの位置を色判別にて検出し※1、測定した信号をリアルタイムで周波数解析し、電磁界強度レベルを測定対象物の実画像と重ね合わせてヒートマップ状に表示します。
※1 ： 国立大学法人 金沢大学 特願 2007-223275 および 株式会社ノイズ研究所 特許5205547による位置検出する方法です。

● エミッション測定時の対策ツールとしてご利用できます。
● ノイズの発生要因・分析が手軽に簡単に確認できます。
● 対策前後の比較が簡単に確認できます。
● 電磁界プローブを変えることで製品全体から部品単体まで測定ができます。
● コンパクトで持ち運びに便利です。
● お客さま所有のスペアナや電磁界プローブを用いてシステム構築ができます。（要ご相談）

【概略仕様】
周波数範囲：電磁界プローブ、プリアンプ、スペクトラムアナライザの仕様に依存
測定単位：dBμV, dBm
データ記録方式：Single ／ Free Run ／ Max Hold ／ Max Peak Data
補助機能：保存／読み込み／エクスポート／コメント入力／ファクター再読込み／カメラ画像撮り直し／カメラ画像の上下・左右反転／カメラ画像のゴースト表示／画面の拡大・縮小
OS：Windows10 / 11

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