生産現場の変化に伴い、製造装置の摩耗や亀裂、故障などを早期検出するというニーズが
高まっています。
AEは、振動計測などに比べ早期に変化を捉えることが可能なため、その活用が期待されています。

• PDF資料
• お問い合わせ

• 半導体

前に戻る