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テクトロニクス／ケースレーインスツルメンツ

DC計測の基礎～半導体パラメトリック測定まで、Keithley Days2021をはじめ、昨年開催されたWebセミナで特に人気の高かった８セッションが、再度オンラインセミナにてご覧いただけます。前回見逃した方は必見です。

日程：3月16日（水）~3月17日（木） 10:00~15:00

セッション詳細　https://go2.tek.com/keithley-webinar-replay-agenda/

3月16日（水）

・　不安や迷いを解消！最適なDC測定器の選び方

・　SiCとGaNコンポーネントに対しキーとなる5つのテスト

・　恒温槽での信頼性試験と並列測定の手法

・　PLCによる計測器制御簡略化のヒント～通信・制御トラブルを最小限に

3月17日（木）

・　半導体パラメータ・アナライザの基礎Webセミナ

　　～半導体パラメータ・アナライザを用いた電気特性評価の基礎を学ぶ～"

・　ケースレーの高電圧CV測定の総まとめ

・　"新時代こそ重要！材料評価のための信頼性評価試験ソリューション　

・　SMU 実機デモで比較解説 ー SMUのDC電源／電子負荷性能について

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