テクトロニクス／ケースレーインスツルメンツ
パラメトリック・テスト・システム　S530型・S530-HV型

今日のアナログ技術、GaN (窒化ガリウム) やSIN (炭化ケイ素)な どの
ワイド·バンドギャップ技術、パワー半導体技術では、
測定 性能の最大化、幅広いプロダクトミックスへの対応、
試験コス トの最小化を実現するための
パラメトリックテストが求められ ています。
KTE-7ベースのS530シリーズ·プラットフォームは、
高速、最大1100Vの優れた柔軟性を備えており、
新たなアプリケー ション、要求の変更にも簡単に対応できるだけでなく、
従来のケー スレーのS600、S400、その他のテストプラットフォームからの
移行が、容易に、低コストで実現できます。

【主な特長】

●200Vと1100Vの機種、12~64ケルピンピンに対応。
任意の テストソースから任意のテスト・ピンへの割当てが可能。
1 回のプロービングですべてのバラメータを測定

●容量、抵抗、バルス、 周波数を含む、
高速、高確度のDCソース/測定機能

●テストヘッドオプションによるブローバへの直接ドッキング が可能であり、システムのピンにおける校正、
さまざまなベン ダのプローブ・カードの再利用、
ATF-16949要件にも対応

●オプションのSRU(システムリファレンスユニット)により
システムレベルでのISO-17025校正が可能

●業界で実績のあるLinuxベースのKTEソフトウェアで実行するため、
従来のS400/S600システムとの互換性、 相関性がある

●KTE ソフトウェアは、KTE 5.8に比べてテスト時間が最大15%高速に

●トランジェント過電圧/過電流 (TOVP/TOVC) 保護機能が
内蔵されているためプローブカード、ニードル、
実装の偶発的 な損傷を防ぐ

● COTS(商用オフザシェルフ)での実装ベース設計で
ラボグレー ドの測定性能と低ダウンタイムを実現

● SECS/GEM自動化オプション



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